发明名称 料盘芯片自动检验及包装设备
摘要 本发明是有关于一种料盘芯片自动检验及包装设备,包括有:一输送单元、一外观检验装置、一料盘上盖暂存区、一布纸暂存区、一第一检测镜头及一第二检测镜头。其中,输送单元包括有一取放装置及一旋转载台,用以移载一料盘至不同工作站,输送单元依序分别连接一入料区、一料盘芯片外观检验区、一布纸与料盘堆叠区、一绑束带区以及一出料区。第一与第二检测镜头分别用以检验料盘内所置放的每一芯片外观与每一布纸位置;取放装置包括有一夹持机构,用以夹持该料盘。借此,可减少人力、工时,避免不合格产品流出。
申请公布号 CN104670585A 申请公布日期 2015.06.03
申请号 CN201310618450.2 申请日期 2013.11.27
申请人 京元电子股份有限公司 发明人 陈怡君;赖昌鑫
分类号 B65B57/14(2006.01)I;B65B61/22(2006.01)I;B65B35/50(2006.01)I;B65B35/16(2006.01)I 主分类号 B65B57/14(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 曹玲柱
主权项 一种料盘芯片自动检验及包装设备,其特征在于,包括:一输送单元,包括有一取放装置及一旋转载台,用以移载一料盘至不同工作站,其中该输送单元依序分别连接一入料区、一料盘芯片外观检验区、一布纸与料盘堆叠区、一绑束带区及一出料区;一料盘上盖暂存区及一布纸暂存区,分别设置于该布纸与料盘堆叠区的一侧;以及一外观检验装置,包括一第一检测镜头及一第二检测镜头;其特征在于:该第一检测镜头设置于该料盘芯片外观检验区上方,用以检查每一通过该料盘芯片外观检验区的该料盘;该第二检测镜头设置于该布纸与料盘堆叠区上方,用以检查每一通过该布纸与料盘堆叠区的该布纸的位置;该取放装置包括有一夹持机构,用以夹持该料盘。
地址 中国台湾新竹市