发明名称 |
一种内存测试系统 |
摘要 |
本实用新型提供一种内存测试系统,包括:测试机台及设于所述测试机台的多个测试板、电源分开关、显示器及输入设备;所述多个测试板,连接所述测试机台,每个测试板载有至少支持对多种频率的内存的检测的CPU及用于插设内存的DIMM插槽;所述电源分开关,分别控制各所述测试板上DIMM插槽的通电;所述显示器,连接所述测试机台,用于显示各所述测试板的测试结果;输入设备,连接所述测试机台用于供输入指令并通过所述测试机台传达至各所述测试板;本实用新型改进了设备的运行效率,大幅度提高产能。 |
申请公布号 |
CN204375427U |
申请公布日期 |
2015.06.03 |
申请号 |
CN201520013049.0 |
申请日期 |
2015.01.08 |
申请人 |
海太半导体(无锡)有限公司 |
发明人 |
沈泽斌 |
分类号 |
G11C29/56(2006.01)I |
主分类号 |
G11C29/56(2006.01)I |
代理机构 |
无锡市朗高知识产权代理有限公司 32262 |
代理人 |
杨虹 |
主权项 |
一种内存测试系统,其特征在于,包括:测试机台及设于所述测试机台的多个测试板、电源分开关、显示器及输入设备;所述多个测试板,连接所述测试机台,每个测试板载有至少支持对多种频率的内存的检测的CPU及用于插设内存的DIMM插槽;所述电源分开关,分别控制各所述测试板上DIMM插槽的通电;所述显示器,连接所述测试机台,用于显示各所述测试板的测试结果;所述输入设备,连接所述测试机台用于供输入指令并通过所述测试机台传达至各所述测试板。 |
地址 |
214000 江苏省无锡市无锡市高新区综合保税区K5、K6地块 |