| 发明名称 | 一种量子产率的测试方法 | ||
| 摘要 | 公开了一种量子产率的测试方法，用于测试待测样品的量子产率Q，包括：提供量子产率为Q<sub>r</sub>的参比样品；提供折射率为n<sub>r</sub>的第一溶剂和折射率为n的第二溶剂，获得参比样品溶液/胶体和待测样品溶液/胶体；获得参比样品溶液/胶体的吸光度A<sub>r</sub>，和待测样品溶液/胶体的吸光度A；制备稀释因子为T<sub>r</sub>的参比样品稀释液，和稀释因子为T的待测样品稀释液；获得参比样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N<sub>r</sub>和单个分子或粒子的荧光强度I<sub>r</sub>，和待测样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N和单个分子或粒子的荧光强度I；计算单分子水平下的量子产率<img file="DDA00003024470600011.GIF" wi="768" he="158" />该测试方法简单，测量准确性较高，为量子产率计算提供了理论方法。 | ||
| 申请公布号 | CN103226100B | 申请公布日期 | 2015.06.03 |
| 申请号 | CN201310120635.0 | 申请日期 | 2013.04.09 |
| 申请人 | 深圳先进技术研究院 | 发明人 | 张春阳;胡娟 |
| 分类号 | G01N21/64(2006.01)I | 主分类号 | G01N21/64(2006.01)I |
| 代理机构 | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人 | 郝传鑫;熊永强 |
| 主权项 | 一种量子产率的测试方法，用于测试待测样品的量子产率Q，其特征在于，包括：提供一量子产率为Q<sub>r</sub>的参比样品；提供折射率为n<sub>r</sub>的第一溶剂和折射率为n的第二溶剂，将所述参比样品溶于所述第一溶剂，制备得到参比样品溶液/胶体，将所述待测样品溶于所述第二溶剂，制备得到待测样品溶液/胶体；测试所述参比样品溶液/胶体和所述待测样品溶液/胶体的吸收光谱，获得所述参比样品溶液/胶体的吸光度A<sub>r</sub>，和所述待测样品溶液/胶体的吸光度A；分别稀释所述参比样品溶液/胶体和所述待测样品溶液/胶体，制备得到稀释因子为T<sub>r</sub>的参比样品稀释液，和稀释因子为T的待测样品稀释液；测试所述参比样品稀释液和所述待测样品稀释液的荧光图像，获得所述参比样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N<sub>r</sub>和单个分子或粒子的荧光强度I<sub>r</sub>，和所述待测样品稀释液的荧光图像的分子或粒子个数N和单个分子或粒子的荧光强度I；根据获得的上述参数，计算单分子水平下量子产率Q如下：<maths num="0001" id="cmaths0001"><math><![CDATA[<mrow><mi>Q</mi><mo>=</mo><msub><mi>Q</mi><mi>r</mi></msub><mo>×</mo><mfrac><mi>I</mi><msub><mi>I</mi><mi>r</mi></msub></mfrac><mo>×</mo><mfrac><mi>N</mi><msub><mi>N</mi><mi>r</mi></msub></mfrac><mo>×</mo><mfrac><mi>T</mi><msub><mi>T</mi><mi>r</mi></msub></mfrac><mo>×</mo><mfrac><msub><mi>A</mi><mi>r</mi></msub><mi>A</mi></mfrac><mo>×</mo><mfrac><msup><mi>n</mi><mn>2</mn></msup><msubsup><mi>n</mi><mi>r</mi><mn>2</mn></msubsup></mfrac><mo>.</mo></mrow>]]></math><img file="FDA0000604581020000011.GIF" wi="1098" he="234" /></maths> | ||
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