发明名称 带有增强型源极-金属接头的屏蔽栅极沟槽金属氧化物半导体场效应管
摘要 一种形成在具有衬底顶面的半导体衬底上的半导体器件,包含:一个从衬底顶面延伸到半导体衬底中的栅极沟槽;一个在栅极沟槽中的栅极电极;一个沉积在栅极电极上方的电介质材料;一个在栅极沟槽附近的本体区;一个嵌在本体区中的源极区,至少一部分源极区延伸到电介质材料上方;一个接触沟槽,使源极区和本体区之间能进行电气等接触;以及一个沉积在至少一部分栅极沟槽开口、至少一部分源极区以及至少一部分接触沟槽上方的金属层。
申请公布号 CN102623501B 申请公布日期 2015.06.03
申请号 CN201210022166.4 申请日期 2012.01.13
申请人 万国半导体股份有限公司 发明人 陈军
分类号 H01L29/78(2006.01)I;H01L29/423(2006.01)I;H01L21/336(2006.01)I 主分类号 H01L29/78(2006.01)I
代理机构 上海信好专利代理事务所(普通合伙) 31249 代理人 张静洁;张妍
主权项 一种形成在具有衬底顶面的半导体衬底上的半导体器件,其特征在于,其包含:一个从衬底顶面延伸到半导体衬底中的栅极沟槽;一个在栅极沟槽中的栅极电极;一个沉积在栅极电极上方的栅极顶部电介质材料;一个在栅极沟槽附近的本体区;一个嵌在本体区中的源极区;一个使源极区和本体区之间接触的接触沟槽;以及,一个沉积在至少一部分栅极沟槽开口、至少一部分源极区、以及至少一部分接触沟槽上方的金属层;所述源极区包含一个弯曲侧壁部分,其相邻于栅极沟槽,并且延伸至栅极顶部电介质材料的上方。
地址 美国加利福尼亚桑尼维尔奥克米德公园道475号