| 发明名称 | 射频元器件测试方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及射频测试技术领域，具体而言，涉及射频元器件测试方法。该射频元器件测试方法，包括：提供第一测试信号源及第二测试信号源；利用所述第一测试信号源产生的测试信号作为射频元器件的测试输入信号；利用所述第二测试信号源产生的测试信号作为射频元器件的本振输入信号；接收所述射频元器件的输出信号，利用所述输出信号形成所述射频元器件的测试结果。本发明提供的射频元器件测试方法，通过第一测试信号源及第二测试信号源产生的测试信号对射频元器件进行测试，通过对射频元器件输出的输出信号的波形、频谱等参量的分析形成测试结果，如此实现对射频元器件的测试。 | ||
| 申请公布号 | CN104683041A | 申请公布日期 | 2015.06.03 |
| 申请号 | CN201310611114.5 | 申请日期 | 2013.11.26 |
| 申请人 | 北京航天情报与信息研究所 | 发明人 | 郭霖;尹德增 |
| 分类号 | H04B17/15(2015.01)I;H04B17/29(2015.01)I | 主分类号 | H04B17/15(2015.01)I |
| 代理机构 | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371 | 代理人 | 吴开磊 |
| 主权项 | 一种射频元器件测试方法，其特征在于，包括：提供第一测试信号源及第二测试信号源；利用所述第一测试信号源产生的测试信号作为射频元器件的测试输入信号；利用所述第二测试信号源产生的测试信号作为射频元器件的本振输入信号；接收所述射频元器件的输出信号，利用所述输出信号形成所述射频元器件的测试结果。 | ||
| 地址 | 100854 北京市海淀区永定路52号（北京市北京142信箱32分箱） | ||