发明名称 用于显微镜透照装置的平面光源
摘要 本发明涉及用于显微镜透照装置的平面光源(100),其用于观察显微镜中的样本(1),该平面光源(100)包含板状光导(110),其具有下边界表面、上边界表面、至少一个侧面(113至116)以及至少一个发光装置(120,122),该发光元件被布置成通过作为光入射面的至少一个侧面,从至少两个不同的方向将光线辐射入光导(110),通过这种方式光线在光导(110)内以全反射的方式传播,通过在光导(110)下边界表面上的接触面上邻接元件(140)的方式破坏该全反射,从而光线从光导(110)的上边界表面耦合输出,该接触面的平面面积小于该下边界表面的平面面积。
申请公布号 CN102707422B 申请公布日期 2015.06.03
申请号 CN201210023510.1 申请日期 2012.02.02
申请人 徕卡显微系统(瑞士)股份公司 发明人 R·保卢斯;R·祖斯特;H·史尼兹勒
分类号 G02B21/06(2006.01)I;G02B6/00(2006.01)I 主分类号 G02B21/06(2006.01)I
代理机构 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 代理人 王勇
主权项 一种用于显微镜透照装置的平面光源(100;200;300;400),用于观察显微镜中的样本(1),其中所述平面光源(100)位于样本(1)的下方,以使光透射通过样本(1),该平面光源(100;200;300;400)包含板状光导(110;210;310),其具有下边界表面(111)、上边界表面(112)、至少一个侧面(113至116)以及至少一个发光装置(120,122),该发光元件被布置成通过作为光入射面的至少一个侧面,从至少两个不同的方向将光线(130)辐射入光导(110;210;310),通过这种方式光线在光导(110;210;310)内以全反射的方式传播,通过在光导(110;210;310)下边界表面(111)上的接触面(A)上邻接元件(140;440)的规定方式破坏该全反射,从而光线从光导(110;210;310)的上边界表面(112)耦合输出,该接触面的平面面积(A)小于该下边界表面(111)的平面面积(L<sup>2</sup>)。
地址 瑞士海尔布鲁格