发明名称 ICT测试转接头
摘要 本实用新型涉及电子零件测试技术领域,具体涉及一种用于电子零件进行ICT测试的转接头。所述转接头的一端为64pin接头,所述转接头的另一端设有两组32pin接头,所述64pin接头的pin针与每组32pin接头的pin针电藕合联接并对应导通,环绕所述转接头的为外壳。本实用新型结构简单合理,较现有技术,减少了排线与开关板之间磨损、变形,延长了开关板的使用寿命,确保了测试值的准确性和稳定性。
申请公布号 CN204374245U 申请公布日期 2015.06.03
申请号 CN201520073293.6 申请日期 2015.02.02
申请人 众华电子科技(太仓)有限公司 发明人 吴小毛;王守照
分类号 G01R1/04(2006.01)I 主分类号 G01R1/04(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 ICT测试转接头,其特征在于:所述转接头的一端为64pin接头(1),所述转接头的另一端设有两组32pin接头(3),所述64pin接头(1)的pin针(4)与每组32pin接头(3)的pin针(4)电藕合联接并对应导通,环绕所述转接头的为外壳(2)。
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