发明名称 控制次波长光栅光学装置中之相位响应的技术
摘要
申请公布号 TWI486641 申请公布日期 2015.06.01
申请号 TW100108519 申请日期 2011.03.14
申请人 惠普研发公司 发明人 吴威;威廉斯 R 史丹利;李晶晶;凯明斯 索多瑞I;费伦提欧 马可
分类号 G02B27/44 主分类号 G02B27/44
代理机构 代理人 恽轶群 台北市松山区南京东路3段248号7楼;陈文郎 台北市松山区南京东路3段248号7楼
主权项 一种具有可控相位响应之次波长光栅装置,其包含有:一光栅层,其具有之线宽、线厚、线周期、和线距,经选择可促成该光栅层所反射之光波的不同光束部分之相位变化中的第一阶控制;和一固定至该光栅层之基体,其可促成该光栅层所反射之光波的不同光束部分之相位变化中的第二阶控制,该第二阶控制系藉由以下构成之群组中的一个而完成:在一水平维度中使该基体成陡峭阶梯状,在一水平维度中使该基体成斜坡状,以及改变在一水平维度中之折射率。
地址 美国