发明名称 蚀刻装置、蚀刻方法及基板载置机构
摘要 蚀刻基板之含矽膜的蚀刻装置,系具备有:腔室、设于腔室内之基板载置机构、将含氟、氢及氮之蚀刻气体供给至腔室内之气体供给机构以及排气机构。基板载置机构系具有载置台、将载置台之载置面温度调整至50℃以下之温度的温度调整机构以及将载置台之载置面以外之面的至少一部份加热至60~100℃之加热构件,载置台之至少载置面系形成有树脂制披覆层。
申请公布号 TW201521109 申请公布日期 2015.06.01
申请号 TW103135609 申请日期 2014.10.15
申请人 东京威力科创股份有限公司 TOKYO ELECTRON LIMITED 发明人 高桥宏幸 TAKAHASHI, HIROYUKI;中村芳彦 NAKAMURA, YOSHIHIKO;户泽茂树 TOZAWA, SHIGEKI;中村雄辅 NAKAMURA, YUSUKE;保坂晋 HOSAKA, SUSUMU
分类号 H01L21/306(2006.01);H01L21/67(2006.01) 主分类号 H01L21/306(2006.01)
代理机构 代理人 林秋琴陈彦希
主权项
地址 日本 JP