发明名称 扫描测试电路
摘要
申请公布号 TWI486607 申请公布日期 2015.06.01
申请号 TW101126592 申请日期 2012.07.24
申请人 联发科技(新加坡)私人有限公司 发明人 派顿 迪米崔;池其辉;盖斯乐 约瑟夫派克
分类号 G01R31/28;H03K3/027 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 吴丰任 新北市永和区福和路389号6楼之3;戴俊彦 新北市永和区福和路389号6楼之3
主权项 一种扫描测试电路,包含有:一功能路径,包含有:一D型栓锁器,用来接收一输入以及产生一输出,该D型栓锁器包含有一回授节点,且该D型栓锁器系由根据一系统时脉所产生之脉波所驱动该D型栓锁器包含有:一第一反相器,用来接收该输入;一传输闸,耦接至该第一反相器,且由该脉波所驱动;一栓锁三态反相器,耦接至该传输闸,该栓锁三态反相器包含有该回授节点,且由该脉波来驱动;以及一第二反相器,耦接至该栓锁三态反相器,用来产生该输出;一测试路径,包含有:一扫描栓锁器,用来根据一测试启动信号来接收一测试输入,以及产生一输出,该扫描栓锁器系由一测试时脉信号所驱动;一第一测试反相器,用来接受该测试输入;一第一传输闸,耦接至该第一测试反相器,且由该测试时脉信号来驱动;一第二测试反相器,耦接至该第一传输闸;一三态缓冲器,耦接至该第二测试反相器,且由该测试时脉信号来驱动;以及 一第二传输闸,并联耦接至该第一传输闸以及耦接至该三态缓冲器,且由该测试时脉信号来驱动,用来产生该输出至一三态反相器以及该功能路径之该回授节点;以及该三态反相器,耦接至该测试路径以及该功能路径;其中该测试路径之该输出被输入至该D型栓锁器之该回授节点以及该三态反相器,且当该测试启动信号被启用时,停止该脉波之产生。
地址 新加坡