发明名称 |
面位置检测装置、面位置检测方法、曝光装置、及元件制造方法 |
摘要 |
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申请公布号 |
TWI487001 |
申请公布日期 |
2015.06.01 |
申请号 |
TW097143786 |
申请日期 |
2008.11.13 |
申请人 |
尼康股份有限公司 |
发明人 |
日高康弘 |
分类号 |
H01L21/027;G03F7/20;G03B27/52 |
主分类号 |
H01L21/027 |
代理机构 |
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代理人 |
桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼 |
主权项 |
一种面位置检测装置,用以检测物体之既定面的位置资讯,其具备:第1光学系统,系从相对于该既定面倾斜之方向投射光;第2光学系统,系接收来自该物体之该光;检测系统,系接收来自该第2光学系统之该光,并根据该光来检测该既定面在与该既定面交叉之方向的位置资讯;以及相位差赋予系统,系设于将该第1光学系统之光路横切之面,在朝向该物体之既定面之光中于该横切之面通过彼此不同部分之第1光与第2光之间赋予相位差。
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地址 |
日本 |