发明名称 面位置检测装置、面位置检测方法、曝光装置、及元件制造方法
摘要
申请公布号 TWI487001 申请公布日期 2015.06.01
申请号 TW097143786 申请日期 2008.11.13
申请人 尼康股份有限公司 发明人 日高康弘
分类号 H01L21/027;G03F7/20;G03B27/52 主分类号 H01L21/027
代理机构 代理人 桂齐恒 台北市中山区长安东路2段112号9楼;阎启泰 台北市中山区长安东路2段112号9楼
主权项 一种面位置检测装置,用以检测物体之既定面的位置资讯,其具备:第1光学系统,系从相对于该既定面倾斜之方向投射光;第2光学系统,系接收来自该物体之该光;检测系统,系接收来自该第2光学系统之该光,并根据该光来检测该既定面在与该既定面交叉之方向的位置资讯;以及相位差赋予系统,系设于将该第1光学系统之光路横切之面,在朝向该物体之既定面之光中于该横切之面通过彼此不同部分之第1光与第2光之间赋予相位差。
地址 日本