发明名称 处理基板的技术;TECHNIQUES FOR PROCESSING A SUBSTRATE
摘要 本发明揭露一种用于处理基板的改良技术。在一特定例示性实施例中,所述技术可使用用于处理基板的遮罩而达成。所述遮罩可并入至诸如离子植入系统之基板处理系统中。所述遮罩可包括:一或多个第一孔,其安置于第一列中;以及一或多个第二孔,其安置于第二列中,每一列沿所述遮罩之宽度方向延伸,其中所述一或多个第一孔及所述一或多个第二孔为非一致的。; and one or more second apertures disposed in a second row, each row extending along a width direction of the mask, wherein the one or more first apertures and the one or more second apertures are non-uniform.
申请公布号 TW201521074 申请公布日期 2015.06.01
申请号 TW103140413 申请日期 2010.04.08
申请人 瓦里安半导体设备公司 VARIAN SEMICONDUCTOR EQUIPMENT ASSOCIATES, INC. 发明人 丹尼尔斯 凯文M DANIELS, KEVIN M.;洛 罗素J LOW, RUSSELL J.;贝特曼 尼可拉斯P T BATEMAN, NICHOLAS P. T.;里欧登 班杰明B RIORDON, BENJAMIN B.
分类号 H01J37/317(2006.01);H01L21/265(2006.01) 主分类号 H01J37/317(2006.01)
代理机构 代理人 叶璟宗郑婷文詹富闵
主权项
地址 美国 US