发明名称 MOS电容以及其制造方法
摘要 本发明涉及MOS电容以及其制造方法。该方法包括,步骤一:在基板上设置SiC外延层;步骤二:在SiC外延层上设置氧隔离层;步骤三:在氧隔离层上设置硅层;步骤四:将硅层氧化成SiO<sub>2</sub>层。根据本方法制造的MOS电容,反型沟道载流子迁移较高,MOS电容的性能较好。
申请公布号 CN104659114A 申请公布日期 2015.05.27
申请号 CN201510043980.8 申请日期 2015.01.28
申请人 株洲南车时代电气股份有限公司 发明人 陈喜明;李诚瞻;颜骥;赵艳黎;高云斌;史晶晶;刘国友
分类号 H01L29/94(2006.01)I;H01L21/02(2006.01)I 主分类号 H01L29/94(2006.01)I
代理机构 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人 吴大建;刘华联
主权项 一种制造MOS电容的方法,所述方法包括,步骤一:在基板上设置SiC外延层;步骤二:在所述SiC外延层上设置氧隔离层;步骤三:在所述氧隔离层上设置硅层;步骤四:将所述硅层氧化成SiO<sub>2</sub>层。
地址 412001 湖南省株洲市石峰区时代路169号