发明名称 |
一种晶圆处理工艺及晶圆处理装置 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种晶圆处理工艺及晶圆处理装置,所述工艺包括:对激光切割后的晶圆进行裂片,以形成分散的多个晶粒;在裂片后的晶圆的P面覆盖粘贴紫外固化胶带,及在N面覆盖粘贴蓝膜胶带,对覆盖所述紫外固化胶带的P面进行曝光,然后去除所述紫外固化胶带,以使所述多个晶粒转移至所述蓝膜胶带上,实现提高切割晶圆速度,以及高效、准确的将晶粒阵列在蓝膜胶带上,提高晶粒电气特性的稳定性,并应用于封装线自动取料,有效提高生产效率和降低生产成本。 |
申请公布号 |
CN104658888A |
申请公布日期 |
2015.05.27 |
申请号 |
CN201510030539.6 |
申请日期 |
2015.01.21 |
申请人 |
安徽安芯电子科技有限公司 |
发明人 |
汪良恩;张小明;熊永平 |
分类号 |
H01L21/02(2006.01)I;H01L21/67(2006.01)I |
主分类号 |
H01L21/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京集佳知识产权代理有限公司 11227 |
代理人 |
王宝筠 |
主权项 |
一种晶圆处理工艺,其特征在于,晶圆包括P面和N面,包括:对激光切割后的晶圆进行裂片,以形成分散的多个晶粒;在裂片后的晶圆的P面覆盖粘贴紫外固化胶带,及在所述N面覆盖粘贴蓝膜胶带;对覆盖所述紫外固化胶带的P面进行曝光,以减小所述紫外固化胶带的粘性;去除所述紫外固化胶带,以使所述多个晶粒转移至所述蓝膜胶带上。 |
地址 |
247100 安徽省池州市经济开发区富安电子信息产业园10号 |