发明名称 半导体装置、芯片及修改比特数据的方法
摘要 本发明实施例公开了一种半导体装置、芯片及修改比特数据的方法,涉及芯片设计技术领域,用于增加对芯片中记录的比特数据进行修改的修改方式。本发明中的记录比特数据的芯片包括N列金属层,每一列包括M层金属层,N和M为不小于2的整数;用于记录所述比特数据的NMOS管的位线固化在N列金属层中边缘列的底层或顶层金属层中,所述NMOS管的漏端固化在另一边缘列的底层或顶层金属层中;处于同一层并且相邻的金属层处于连接或断开状态,处于同一列并且相邻的金属层之间设置有或未设置有连接层,使得所述位线与所述漏端之间存在通路或不存在通路。采用本发明,能够增加对芯片中记录的比特数据进行修改的修改方式。
申请公布号 CN102543190B 申请公布日期 2015.05.27
申请号 CN201010609607.1 申请日期 2010.12.28
申请人 炬芯(珠海)科技有限公司 发明人 王小乐
分类号 G11C16/08(2006.01)I;G11C16/06(2006.01)I 主分类号 G11C16/08(2006.01)I
代理机构 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人 黄志华
主权项 一种半导体装置,其特征在于,该装置具有能够实现两个节点之间多次切换连接与断开状态的结构,通过在两个节点之间多次切换连接与断开的状态,实现更改连接状态所需要更改的版图层的数目最小;该装置具体包括:N列金属层,每一列包括M层金属层,同一列中的金属层通过连接层连接;所述同一列中的金属层之间的连接层,采用交错连接方式;其中,N和M为大于2的整数;通过连接相邻列之间的同层金属层,来实现两个节点之间连接状态的更改。
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