一种光分路器用芯片角度检测装置

摘要

本实用新型涉及一种光分路器用芯片角度检测装置，所述装置包括光源、反射区标、产品测试台；光源和反射区标位于产品测试台的同一侧，光源采用红光源，反射区标采用白色，芯片放置于产品测试台上面，红光光源照射到芯片斜面上，斜面将红光反射到反射区标，通过标准件确定合格品的反射区域，根据所测试芯片的反射点以此判断是否符合要求的角度。

主权项

一种光分路器用芯片角度检测装置，其特征在于：所述装置包括光源、反射区标、产品测试台；光源和反射区标位于产品测试台的同一侧，光源采用红光源，反射区标采用白色，芯片放置于产品测试台上面，红光光源照射到芯片斜面上，斜面将红光反射到反射区标，通过标准件确定合格品的反射区域，根据所测试芯片的反射点以此判断是否符合要求的角度。