发明名称 半导体封装件及其制造方法
摘要 本发明提供了一种半导体封装件,包括:接触焊盘;位于接触焊盘外部的器件;以及位于接触焊盘上的焊料凸块。该器件具有与接触焊盘相对应的导电接触焊盘。该焊料凸块将接触焊盘与导电接触焊盘连接。焊料凸块包括从焊料凸块的顶部至接触焊盘的高度以及宽度,该宽度为焊料凸块在垂直于高度的方向上的最宽尺寸。靠近接触焊盘的焊料凸块的接合部包括沙漏形状。本发明涉及半导体封装件及其制造方法。
申请公布号 CN104659002A 申请公布日期 2015.05.27
申请号 CN201410369383.X 申请日期 2014.07.30
申请人 台湾积体电路制造股份有限公司 发明人 林修任;吕文雄;陈正庭;郭炫廷;陈威宇;郑明达;刘重希
分类号 H01L23/488(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L23/488(2006.01)I
代理机构 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人 章社杲;孙征
主权项 一种半导体封装件,包括:接触焊盘;位于所述接触焊盘外部的器件,并且所述器件包括与所述接触焊盘对应的导电接触焊盘;焊料凸块,连接所述接触焊盘与所述导电接触焊盘,其中,所述焊料凸块包括:从所述焊料凸块的顶部至所述接触焊盘的高度;和所述焊料凸块在垂直于所述高度的方向上的最宽尺寸的宽度;以及其中,靠近所述接触焊盘的所述焊料凸块的接合部包括沙漏形状。
地址 中国台湾新竹
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