发明名称 磁式位置检测装置
摘要 本发明涉及一种磁式位置检测装置,其中,与邻接的磁极面接触的场合相比较,检测精度良好。磁性部件(1a~1d)的磁极面与SV-GMR1~SV-GMR4相对,呈直线状排列。在邻接的磁性部件中,与SV-GMR1~SV-GMR4相对的一侧的磁极面为相反极性。磁性部件(1a~1d)按照等间距(P)排列,邻接的磁性部件相互不接触而间隔配置。磁性部件(1a~1d)的相应长度(X)相对磁性部件(1a~1d)的排列间距(P)的比例比如在40%~60%的范围内。
申请公布号 CN102109359B 申请公布日期 2015.05.27
申请号 CN201010576962.3 申请日期 2010.12.02
申请人 TDK株式会社 发明人 福冈诚二;木户利尚;铃木启史;毛受良一
分类号 G01D5/12(2006.01)I;G01D5/243(2006.01)I 主分类号 G01D5/12(2006.01)I
代理机构 北京三幸商标专利事务所(普通合伙) 11216 代理人 刘激扬
主权项 一种磁式位置检测装置,其特征在于其包括磁传感元件与多个磁性部件,该多个磁性部件的磁极面与上述磁传感元件相对而排列;邻接的磁性部件与上述磁传感元件相对一侧的磁极面为相反极性,并且相互间隔开而设置,上述多个磁性部件在行程范围内产生按照正弦波状变化的磁场,上述磁传感元件为一对或多对,并且上述一对或多对磁传感元件针对上述磁性部件的排列方向实质上设置于同一位置,能专门地指定上述磁传感元件相对上述多个磁性部件的位置。
地址 日本国东京都