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Die Erfindung betrifft eine Anordnung zur Lichtblattmikroskopie. Eine solche Anordnung umfasst eine Beleuchtungsoptik mit einem Beleuchtungsobjektiv (5) zur Beleuchtung einer auf einem Probenträger in einem Medium (2) befindlichen Probe (3) über einen Beleuchtungsstrahlengang mit einem Lichtblatt, wobei die optische Achse (6) des Beleuchtungsobjektivs (5) und das Lichtblatt in einer Ebene liegen, die mit der Normalen einer ebenen Bezugsfläche (4), hinsichtlich welcher der Probenträger ausgerichtet ist, einen von Null verschiedenen Beleuchtungswinkel (&bgr;) einschließt. Die Anordnung umfasst außerdem eine Detektionsoptik mit einem Detektionsobjektiv (7) in einem Detektionsstrahlengang, dessen optische Achse (8) mit der Normalen der Bezugsfläche (4) einen von Null verschiedenen Detektionswinkel (δ) einschließt. Schließlich umfasst die Anordnung auch ein Trennschichtsystem mit mindestens einer Schicht aus einem vorgegebenen Material mit vorgegebener Dicke, welche das Medium (2) von dem Beleuchtungsobjektiv (5) und dem Detektionsobjektiv (7) trennt, wobei das Trennschichtsystem mit einer parallel zur Bezugsfläche (4) ausgerichteten Grundfläche (9) zumindest in dem für das Beleuchtungsobjektiv (5) und das Detektionsobjektiv (7) für Beleuchtung bzw. Detektion zugänglichen Bereich mit dem Medium (2) in Kontakt steht. Die Anordnung umfasst außerdem ein Korrekturlinsensystem mit mindestens einer Detektionskorrekturlinse zur Verringerung von solchen Aberrationen, welche durch den schrägen Durchtritt von zu detektierendem Licht durch Grenzflächen des Trennschichtsystems entstehen. Bei einer solchen Anordnung ist die mindestens eine Detektionskorrekturlinse (9) als Freiformlinse ausgestaltet und zwischen Detektionsobjektiv (7) und Trennschichtsystem angeordnet. Alternativ bildet sie auch die Frontlinse des Detektionsobjektivs (7). |
