发明名称 |
检测装置 |
摘要 |
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申请公布号 |
TWI485371 |
申请公布日期 |
2015.05.21 |
申请号 |
TW102114646 |
申请日期 |
2013.04.24 |
申请人 |
新世纪光电股份有限公司 |
发明人 |
蔡泰成;许国君 |
分类号 |
G01J1/42;G01J1/02;H01L21/66 |
主分类号 |
G01J1/42 |
代理机构 |
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代理人 |
詹铭文 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1;叶璟宗 台北市中正区罗斯福路2段100号7楼之1 |
主权项 |
一种检测装置,适用于接触多个晶片以进行该些晶片的检测,其中各该晶片包括一第一电极以及一第二电极,该检测装置包括:一基板,具有一配置表面;多个电极组,配置于该基板的该配置表面上,各该电极组包括一第一接垫以及一第二接垫,其中该些晶片与该些电极组对应设置,以使各该晶片的该第一电极与该第二电极直接接触同组该电极组中的该第一接垫与该第二接垫;一收光单元,其中该些晶片配置于该收光单元与该基板之间;以及一反射元件层,设置于该基板相对于该配置表面的一表面上。
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地址 |
台南市善化区大利三路5号 |