发明名称 时间差光罩检测
摘要
申请公布号 TWI485395 申请公布日期 2015.05.21
申请号 TW099125979 申请日期 2010.08.04
申请人 ASML控股公司 发明人 凯蒂 爱瑞克 布莱恩;哈耐德 诺拉 珍;许玛瑞芙 叶夫根尼 康斯坦蒂诺夫契;萨罗德森 罗伯特 艾尔伯特;贾库伯 理查 大卫
分类号 G01N21/95;G03F1/84 主分类号 G01N21/95
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种用于侦测一光罩(reticle)上之污染物(contamination)的方法,其包含:比较清洁该光罩之前产生的该光罩之一部分的一第一图徵(signature)与清洁该光罩之后产生的一第二图徵,以回应于形成自该光罩清洁前的一晶圆影像中所侦测到的一误差,该比较系实施以判定是否有污染物存在于经清洁的该光罩上;如果没有该污染物,以该第二图徵覆写(overwriting)该第一图徵;及判定在该第一图徵与该光罩的该部分之一第三图徵之间的一差异,该第三图徵系在该第一图徵之后产生。
地址 荷兰