发明名称 化合物半导体装置及其制造方法
摘要
申请公布号 TWI485850 申请公布日期 2015.05.21
申请号 TW101150054 申请日期 2012.12.26
申请人 创世舫电子日本股份有限公司 发明人 山田敦史
分类号 H01L29/778;H01L21/28 主分类号 H01L29/778
代理机构 代理人 陈长文 台北市松山区敦化北路201号7楼
主权项 一种化合物半导体装置,其包括:化合物半导体层叠结构;电极,系形成于该化合物半导体层叠结构之上;以及p型半导体层,系形成于该化合物半导体层叠结构与该电极之间,其中于该化合物半导体层叠结构与该p型半导体层之间形成有热膨胀系数低于该p型半导体层之基底膜;且该p型半导体层于平行于该化合物半导体层叠结构之表面之方向上,具有由该基底膜之热膨胀系数之差异所产生之张力应变。
地址 日本