发明名称 用于老化测试设备的测试板
摘要
申请公布号 TWI485415 申请公布日期 2015.05.21
申请号 TW102107008 申请日期 2013.02.27
申请人 联测股份有限公司 发明人 崔永培;金昌奎;吴孝鎭
分类号 G01R31/28;G01R31/26 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人 蔡坤财 台北市中山区松江路148号11楼;李世章 台北市中山区松江路148号11楼
主权项 一种用于老化测试设备的测试板,其特征在于,包括:多个插座,装载有要测试的半导体元件,以矩阵形态设置;电路板,具有电路,该电路具有用于将来自测试基板侧的测试信号施加到所述多个插座的传送线路组;以及连接器,结合在所述电路板的一侧,并与测试基板侧电连接,所述多个插座中属于同一列的插座同时布置在一个传送线路组上,具有飞越式结构,其中所述电路板上的电路设定为:设置有所述多个插座的设置区域的阻抗不同于位于通过所述连接器传来的测试信号进入设置区域之前位置的未设置区域的阻抗。
地址 南韩