发明名称 | 测试治具 | ||
摘要 | |||
申请公布号 | TWM501566 | 申请公布日期 | 2015.05.21 |
申请号 | TW103223328 | 申请日期 | 2014.12.30 |
申请人 | 乐荣工业股份有限公司 | 发明人 | 曾炳豪;朱浩奎;锺卫平;尹绍立;王国华;江文雄 |
分类号 | G01S1/08 | 主分类号 | G01S1/08 |
代理机构 | 代理人 | 刘尔顺 台北市内湖区民权东路6段160号4楼之2(B室) | |
主权项 | 一种测试治具,系包括:第一基板,具有第一线位卡槽;第二基板,系平行于该第一基板,具有卡槽以及与该卡槽连通之第二线位卡槽;第一支撑件,系固设于该第一基板之一端;第二支撑件,系固设于该第一基板相对第一支撑件之另一端,其相对连接至该第一基板之面的相反面,并与该第二基板之一端相连接;二个定位块,系固设于该第二基板之同一表面上的相对二侧;以及测试板,其两侧系分别枢接于相对应之定位块,该测试板复包括:第一凹槽,具有相连通之第三线位卡槽;第二凹槽,具有相连通之第四线位卡槽;以及贯孔,系贯通该第一凹槽与该第二凹槽,其中,该第一凹槽与该第二凹槽分别形成于该测试板之上下对应面,其中,该第二、第三及第四线位卡槽,分别与该第一线位卡槽相连通。 | ||
地址 | 台北市大安区安和路2段78号13楼之2 |