| 摘要 |
본 발명은 메모리 테스트 동시 판정 시스템에 관한 것으로서, 가장 가까운 메모리 장치의 데이터를 가장 먼 메모리 장치의 입력 시간만큼 지연시켜 출력함으로써, 물리적 거리에 따른 독출 데이터의 입력 시간 차이에 관계 없이, 둘 이상의 메모리 장치를 동시에 테스트할 수 있는 메모리 테스트 동시 판정 시스템을 제공함에 그 목적이 있다. 이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 테스트를 위한 패턴 신호를 발생시켜, 어드레스 라인 및 커맨드 라인을 통해 전달하는 패턴 발생부; 번인 보드에 실장되어 있는 가장 가까운 메모리 장치로부터 제 1 데이터 라인을 통해 독출 데이터를 입력받으며, 가장 먼 메모리 장치로부터 제 2 데이터 라인을 통해 독출 데이터를 입력받는 지연부; 및 상기 지연부로부터 동시에 출력된 가장 가까운 메모리 장치 및 가장 먼 메모리 장치의 독출 데이터를 하나의 판정 클럭으로 동시에 테스트 하는 판정부; 를 포함하되, 상기 지연부는, 상기 가장 가까운 메모리 장치의 독출 데이터 및 가장 먼 메모리 장치의 독출 데이터의 입력을 각각 인식하고, 가장 가까운 메모리 장치의 독출 데이터를 가장 먼 메모리 장치의 독출 데이터의 입력 시간 차이만큼 지연시켜 출력하는 것을 특징으로 한다. |
