| 发明名称 | 分光装置以及磁测定装置 | ||
| 摘要 | 本发明提供一种分光装置，其使分支的光的光量变得比较均匀。分光装置具有：导光体，其具有对入射的光进行反射的第一面以及第二面，使所述光在所述第一面与第二面之间传播；分光膜，其设于所述导光体的内部，具有使所述光反射的特性与使所述光透过的特性；以及多个光取出部，其设于所述第一面，使在所述分光膜处透过的光射出。 | ||
| 申请公布号 | CN104635293A | 申请公布日期 | 2015.05.20 |
| 申请号 | CN201410584811.0 | 申请日期 | 2014.10.27 |
| 申请人 | 精工爱普生株式会社 | 发明人 | 长坂公夫 |
| 分类号 | G02B6/00(2006.01)I;G01R33/032(2006.01)I | 主分类号 | G02B6/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 刘建 |
| 主权项 | 一种分光装置，其中，该分光装置具有：导光体，其具有对入射的光进行反射的第一面以及第二面，使所述光在所述第一面与第二面之间传播；分光膜，其设于所述导光体的内部，具有使所述光反射的特性与使所述光透过的特性；以及多个光取出部，其设于所述第一面，使在所述分光膜处透过的光射出。 | ||
| 地址 | 日本东京 | ||