发明名称 一种并行折叠计数器状态向量的选择生成方法及其硬件电路
摘要 本发明涉及一种并行折叠计数器状态向量的选择生成方法及其硬件电路,其特征是:建立初始翻转控制向量、折叠距离及对应的翻转控制向量三者之间的逻辑关系;通过折叠距离的译码输出,实现对初始翻转控制向量的选择性位替换,生成与折叠距离对应的翻转控制向量,再将生成的翻转控制向量与折叠种子向量按位依次进行异或运算,从而实现折叠计数器状态向量的选择生成。本发明能对给定的折叠种子向量和折叠距离值,直接生成该折叠距离值所对应的状态向量,从而显著提高确定性BIST测试向量的生成效率,避免冗余状态向量生成,降低电路测试时间和测试功耗。
申请公布号 CN104635148A 申请公布日期 2015.05.20
申请号 CN201510080476.5 申请日期 2015.02.13
申请人 合肥工业大学 发明人 易茂祥;余成林;方祥圣;梁华国;欧阳一鸣;黄正峰
分类号 G01R31/3183(2006.01)I;G01R31/3187(2006.01)I;G01R31/319(2006.01)I 主分类号 G01R31/3183(2006.01)I
代理机构 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 代理人 陆丽莉;何梅生
主权项 一种并行折叠计数器状态向量的选择生成方法,包括:n位的二进制数的折叠种子向量和与所述折叠种子向量对应的n个状态向量;记所述n位的二进制数的折叠种子向量为s=[s<sub>1</sub>s<sub>2</sub>…s<sub>j</sub>…s<sub>n</sub>];s<sub>j</sub>表示所述折叠种子向量s中第j个二进制位;s<sub>1</sub>表示第1个二进制位,即最高二进制位;s<sub>n</sub>表示第n个二进制位,即最低二进制位;1≤j≤n;记与所述折叠种子向量s对应的n个状态向量为X={x<sub>1</sub>,x<sub>2</sub>,…,x<sub>i</sub>,…,x<sub>n</sub>};x<sub>i</sub>表示与所述折叠种子向量s对应的第i个状态向量;1≤i≤n;记与所述n个状态向量X中的每个状态向量依次对应的折叠距离值为{0,1,…,i‑1,…,n‑1};i‑1表示与第i个状态向量x<sub>i</sub>对应的折叠距离值;其特征是,所述选择生成方法是按如下步骤进行目标状态向量的选择生成:步骤1、假设目标状态向量为第i个状态向量x<sub>i</sub>;步骤2、定义初始翻转控制向量为v<sub>0</sub>=[v<sub>1</sub>v<sub>2</sub>…v<sub>i</sub>…v<sub>n</sub>];v<sub>i</sub>表示所述初始翻转控制向量v<sub>0</sub>中第i个二进制位;v<sub>1</sub>表示第1个二进制位,即最高二进制位;v<sub>n</sub>表示第n个二进制位,即最低二进制位;n表示所述初始翻转控制向量v<sub>0</sub>的长度,当i为奇数时,v<sub>i</sub>=1;当i为偶数时,v<sub>i</sub>=0;步骤3、用所述折叠距离值i‑1的二进制数中最低二进制位分别替换所述初始翻转控制向量v<sub>0</sub>中从第i个二进制位v<sub>i</sub>到第n个二进制位v<sub>n</sub>的所有n‑i+1位二进制位;从而获得翻转控制向量v<sub>0</sub>′=[v<sub>1</sub>v<sub>2</sub>…v<sub>i</sub>′…v<sub>n</sub>′];v<sub>i</sub>′表示替换后的第i个二进制位;步骤4、将所述翻转控制向量v<sub>0</sub>′与所述折叠种子向量s按位依次进行异或运算,从而获得所述第i个状态向量x<sub>i</sub>,即所述目标状态向量。
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