一种EEPROM器件测试电路及其测试方法

摘要

本发明涉及一种EEPROM器件测试电路及其测试方法，所述的测试电路包括一主控制器、一与该主控制器的第一IO口的数据线连接的测试单元和一与所述主控制器的第二IO口的控制线连接的译码电路，所述的主控制器一方面向所述的测试单元输出测试启动信号，另一方面接收该测试单元输出的测试数据，生成并存储相应的统计分析信息；所述的译码电路从所述主控制器接收到译码信号，将该主控制器第二IO口的控制线的地址译码成行控制线和列控制线的地址，并将所述行控制线和列控制线的地址设置为高电平或低电平。本发明有效提高了测试效率、降低了测试成本，实现了每个被测器件的时时检测，同时使测试数据丰富直观。

主权项

一种EEPROM器件测试电路的测试方法，所述的测试电路包括一主控制器、一与该主控制器的第一IO口的数据线连接的测试单元和一与所述主控制器的第二IO口的控制线连接的译码电路，其特征在于，所述的测试方法包括下列步骤，步骤一，主控制器向测试单元发送测试启动命令，同时向译码电路发送译码命令，并控制译码电路将主控制器第二IO口的控制线地址经译码后产生的N根行控制线地址设为低电平；步骤二，测试单元接收到步骤一中所述的测试启动命令后，测试单元中的每个被测器件实时向主控制器返回测试数据；步骤三，若步骤二中任一被测器件出现故障，则通过与该被测器件连接的列传输门所连接的第一IO口P1中的列数据线向主控制器输出包含故障信息的测试数据，并向主控制器返回该列数据线的地址；若被测器件未出现故障，则返回步骤二；步骤四，当主控制器接收到步骤三中所述的测试数据后，向译码电路发送译码命令，并控制译码电路将主控制器第二IO口的控制线地址经译码后产生的N根列控制线地址设为低电平；步骤五，主控制器逐个扫描与步骤三中所述列传输门串联的行传输门，直至主控制器检测到步骤三中所述的被测器件后，将与该被测器件连接的行传输门所连接的第一IO口P1中的行数据线的地址返回到主控制器；步骤六，主控制器根据步骤三和步骤五中所述的列数据线的地址和行数据线的地址以及包含故障信息的测试数据，生成、存储并通过显示模块显示出现故障的被测器件的统计分析信息，且该信息包括被测器件的故障原因和坐标信息；其中，N为自然数。