芯片测试方法

摘要

本发明公开了一种芯片的测试方法，利用SOC测试仪DFM资源进行同一硅片上不同种类或类型的芯片的同时测试，步骤包含对不同类型芯片进行全流程的常规测试，并记录其BIN信息；利用SOC测试仪的DFM模块对记录的BIN信息进行存储；利用测试仪CPU对BIN信息进行处理，将不同产品的测试结果分开并正确上传到对应的服务器上，实现多芯片的量产测试。

主权项

一种芯片测试方法，其特征在于：包含如下步骤：第一步，对晶圆上的不同类型芯片进行全流程测试，并记录其BIN信息；第二步，利用SOC测试仪的DFM模块对记录的BIN信息进行存储；第三步，利用SOC测试仪CPU对BIN信息进行处理，将测试结果上传到对应的服务器上。