发明名称 触控装置及其扫描方法
摘要 本发明涉及一种触控装置及其扫描方法,所述扫描方法主要为先取得该触控装置一感应线上多个感应点的一初始感应变化量,并以各感应点分别作为一参考点,且由任一参考点与其邻近的多个感应点分别构成一预设区段;接着找出各预设区段内的最小初始感应变化量作为该参考点的一第一参考感应变化量,再找出各预设区段内最大的第一参考感应变化量作为该参考点的一第二参考感应变化量,经比较该感应线上各感应点的初始感应变化量和该第二参考感应变化量,以对应找出一触控物件的位置,借此可滤除触控装置因扭曲或液晶面板扫描信号干扰所造成的大面积杂讯。
申请公布号 CN104636004A 申请公布日期 2015.05.20
申请号 CN201310642239.4 申请日期 2013.12.02
申请人 义隆电子股份有限公司 发明人 邱敬婷
分类号 G06F3/044(2006.01)I 主分类号 G06F3/044(2006.01)I
代理机构 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 代理人 程伟;王刚
主权项 一种触控装置的扫描方法,其中所述触控装置具有m个感应点,其中m是大于1的整数,所述触控装置的扫描方法包括:取得所述各感应点的初始感应变化量;决定所述各感应点的一第一参考感应变化量以及一第二参考感应变化量,其包含:一决定第一参考感应变化量步骤,其包含以其中一个感应点作为一参考点以界定一预设区段,其中该预设区段的宽度为包含该参考点的n个感应点,且n是小于m的整数,并以该预设区段内所述各感应点的初始感应变化量中的一最小初始感应变化量作为该参考点的第一参考感应变化量,并重复该决定第一参考感应变化量步骤直到所有感应点都有一个对应的该第一参考感应变化量;以及一决定第二参考感应变化量步骤,其包含以其中一个预设区段内所有感应点的第一参考感应变化量中的一最大第一参考感应变化量,作为该预设区段内作为参考点的感应点的第二参考感应变化量,并重复决定该第二参考感应变化量步骤直到所有感应点都有一个对应的第二参考感应变化量;以及根据所述各感应点的初始感应变化量和所述各第二参考感应变化量进行运算,以获得对应所述各感应点的一第三参考感应变化量,用以供后续进行坐标运算。
地址 中国台湾新竹市