发明名称 一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置
摘要 本实用新型提供一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置,能够探测半导体光源真实的远场三维强度分布。该快速表征装置主要包括光电探测器、固定支架、摆动组件及其驱动电机,所述摆动组件包括固定连接的摆动部和驱动部,驱动部安装于固定支架上;所述摆动部的主体为半圆弧,半圆弧上均匀布置有多个导光部件并汇集成束接至所述光电探测器,半圆弧面向待测光源能够以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度。本实用新型结构简明,可靠性高,不存在旋转臂之间相互干涉现象,能够快速完成半导体激光器辐射强度真实的空间三维分布表征。
申请公布号 CN204346582U 申请公布日期 2015.05.20
申请号 CN201420821016.4 申请日期 2014.12.20
申请人 西安炬光科技有限公司 发明人 刘晖;袁治远;崔龙;王昊;吴迪;刘兴胜
分类号 G01J1/00(2006.01)I 主分类号 G01J1/00(2006.01)I
代理机构 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人 胡乐
主权项 一种用于半导体光源的三维远场强度的快速表征装置,其特征在于:包括光电探测器、固定支架、摆动组件及其驱动电机,所述摆动组件包括固定连接的摆动部和驱动部,驱动部安装于固定支架上;所述摆动部的主体为半圆弧,半圆弧上均匀布置有多个导光部件并汇集成束接至所述光电探测器,半圆弧面向待测光源能够以所述半圆弧的两端点连线为轴旋转180度。
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