带存储单元的集成芯片的复测方法

摘要

本发明公开了一种带存储单元的集成芯片的复测方法，包括如下步骤：步骤一，通过读取CP1通过标记，判断芯片是否做过并完全通过上次CP1测试；若通过则测试继续进行，若失效则测试结束，返回失效结果；步骤二，通过读取CP2通过标记，判断芯片是否做过并完全通过上次CP2测试；若通过则测试结束，返回通过结果；若失效则测试继续进行；步骤三，通过读CP2第一数据保存标记，判断是否需要进行数据保存功能测试；若需要则测试继续进行，若不需要则测试结束，返回失效结果；步骤四，通过写及读CP2第二数据保存标记，验证CP2第二数据保存标记，以便复测时判断数据保存功能是否失效。本发明能够保证测试结果的准确性并节省复测时间。

主权项

一种带存储单元的集成芯片的复测方法，其特征在于，将第一次针测记为CP1，第二次针测记为CP2；设置一CP1通过标记，用于判断芯片是否完全通过CP1测试；设置一CP2通过标记，用于判断芯片是否完全通过CP2测试；设置一CP2第一数据保存标记，用于判断是否进行数据保存功能测试；设置一CP2第二数据保存标记，用于判断芯片是否通过数据保存功能测试；包括如下步骤：步骤一，通过读取CP1通过标记，判断芯片是否做过并完全通过上次CP1测试；若通过则测试继续进行，若失效则测试结束，返回失效结果；步骤二，通过读取CP2通过标记，判断芯片是否做过并完全通过上次CP2测试；若通过则测试结束，返回通过结果；若失效则测试继续进行；步骤三，通过读CP2第一数据保存标记，判断是否需要进行数据保存功能测试；若需要则测试继续进行，若不需要则测试结束，返回失效结果；步骤四，通过写及读CP2第二数据保存标记，验证CP2第二数据保存标记，以便复测时判断数据保存功能是否失效。