发明名称 | 利用光中子透射对物体成像的装置 | ||
摘要 | 本实用新型涉及利用光中子透射对物体成像的装置。本实用新型的装置使用光中子射线透射所述物体,具备:光中子源,发射用于对所述物体进行照射的光中子射线;探测器,对来自所述光中子源的光中子射线进行接收;成像系统,根据由所述探测器接收到的光中子射线对所述物体进行成像,所述探测器是以能够使光中子慢化并且能够吸收光中子的方式构成的探测器,来自所述光中子源的光中子射线的入射方向与所述探测器的表面的法线方向所成的角度处于60度~87度的范围。根据本实用新型,通过使来自光中子源的光中子射线的入射方向与探测器的表面的法线方向所成的角度θ为60度~87度的范围,从而能够将分辨率由10cm提高到2cm左右。 | ||
申请公布号 | CN204346955U | 申请公布日期 | 2015.05.20 |
申请号 | CN201420558258.9 | 申请日期 | 2014.09.26 |
申请人 | 同方威视技术股份有限公司 | 发明人 | 杨祎罡;张勤俭;李元景;张智 |
分类号 | G01N23/05(2006.01)I | 主分类号 | G01N23/05(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 闫小龙;刘春元 |
主权项 | 一种利用光中子透射对物体成像的装置,其使用光中子射线透射所述物体,其特征在于,具备:光中子源,发射用于对所述物体进行照射的光中子射线;探测器,对来自所述光中子源的光中子射线进行接收;以及成像系统,根据由所述探测器接收到的光中子射线对所述物体进行成像,所述探测器是以能够使光中子慢化并且能够吸收光中子的方式构成的探测器,来自所述光中子源的光中子射线的入射方向与所述探测器的表面的法线方向所成的角度处于60度~87度的范围。 | ||
地址 | 100084 北京市海淀区双清路同方大厦A座2层 |