发明名称 |
一种用远红外激光干涉仪测量等离子体MHD扰动的方法 |
摘要 |
本发明属于一种新的等离子体MHD扰动诊断方法,具体涉及一种用远红外激光干涉仪测量等离子体芯部的MHD扰动。它包括如下步骤,在HCN激光干涉仪上安装高灵敏度的肖特基二极管探测器用于接收差拍信号;信号输出端采用宽带通的前置放大器;将前放输出信号引入高速采集卡采集,并存储;远端读取HCN激光干涉仪系统测量道数据,然后利用specgram程序分析信号频谱,当等离子体中发生MHD扰动时,扰动频率f<sub>1</sub>可以从(f<sub>1</sub>+f<sub>0</sub>)谱线获得;将HCN激光干涉仪测量频谱与Mirnov磁探针、软X射线测量结果进行对比。其优点是,它可以测量很大频率范围的MHD扰动;本方法可以应用到将来的其它激光光源的干涉/偏振仪系统,测量更高频率的MHD扰动信号。 |
申请公布号 |
CN104634452A |
申请公布日期 |
2015.05.20 |
申请号 |
CN201310551725.5 |
申请日期 |
2013.11.08 |
申请人 |
核工业西南物理研究院 |
发明人 |
李永高;周艳 |
分类号 |
G01J3/45(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/45(2006.01)I |
代理机构 |
核工业专利中心 11007 |
代理人 |
高尚梅 |
主权项 |
一种用远红外激光干涉仪测量等离子体MHD扰动的方法,其特征在于:它包括如下步骤,(1)在HCN激光干涉仪上安装高灵敏度的肖特基二极管探测器用于接收差拍信号;(2)信号输出端采用宽带通的前置放大器;(3)将前放输出信号引入高速采集卡采集,并存储;(4)在MATLAB环境下,远端读取HCN激光干涉仪系统测量道数据,然后利用specgram程序分析信号频谱,当等离子体中发生MHD扰动时,扰动频率f<sub>1</sub>可以从(f<sub>1</sub>+f<sub>0</sub>)谱线获得;(5)将HCN激光干涉仪测量频谱与Mirnov磁探针、软X射线测量结果进行对比。 |
地址 |
610041 四川省成都市武侯区二环路南三段3号 |