| 发明名称 | 光强度检测电路 | ||
| 摘要 | 公开了一种光强度检测电路，包括：光传感器，根据环境光强度产生光电流；积分器，包括第一电容，对光电流进行积分；放电脉冲生成电路，根据光电流的积分结果产生放电脉冲；计数器，对放电脉冲进行计数；以及充放电模块，包括第二电容，在接收到放电脉冲后的预定时间内使得第一电容向第二电容转移电荷，其中，在积分时间内重复第一电容的充电过程和放电过程，从而产生多个放电脉冲，计数器对放电脉冲进行计数，从而产生光电流的数字值。该光强度检测电路可以适用于各种产生光电流的光传感器。 | ||
| 申请公布号 | CN204346585U | 申请公布日期 | 2015.05.20 |
| 申请号 | CN201520017558.0 | 申请日期 | 2015.01.09 |
| 申请人 | 杭州士兰微电子股份有限公司 | 发明人 | 周健;胡铁刚 |
| 分类号 | G01J1/44(2006.01)I | 主分类号 | G01J1/44(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京成创同维知识产权代理有限公司 11449 | 代理人 | 蔡纯;刘锋 |
| 主权项 | 一种光强度检测电路，其特征在于，包括：光传感器，根据环境光强度产生光电流；积分器，包括第一电容，对光电流进行积分；放电脉冲生成电路，根据光电流的积分结果产生放电脉冲；计数器，对放电脉冲进行计数；以及充放电模块，包括第二电容，在接收到放电脉冲后的预定时间内进行第一电容的放电，使得第一电容向第二电容转移电荷，其中，在积分时间内重复第一电容的充电过程和放电过程，从而产生多个放电脉冲，计数器对放电脉冲进行计数，从而产生光电流的数字值。 | ||
| 地址 | 310012 浙江省杭州市黄姑山路4号 | ||