| 发明名称 | 用于探测微粒的传感器的功能检验的方法和用于探测微粒的传感器 | ||
| 摘要 | 提出一种用于探测微粒、尤其烟灰的传感器(10)的功能检验的方法，其中所述传感器(10)包括至少两个测量电极(20)和一个加热元件(14)，所述至少两个测量电极设置在由电绝缘材料构成的衬底(18)上。所述方法包括以下步骤：在第一温度(42)时实施第一电流电压测量以求取第一测量参量；在第二温度(60)时实施第二电流电压测量以求取第二测量参量；以及形成所述第一测量参量和所述第二测量参量的差。此外，提出一种用于探测微粒的传感器，所述传感器包括至少两个电极(20)、一个加热元件(14)和一个控制装置(25)，所述至少两个电极设置在由电绝缘材料构成的衬底(18)上。所述控制装置(25)设置用于实施所述方法。 | ||
| 申请公布号 | CN104641216A | 申请公布日期 | 2015.05.20 |
| 申请号 | CN201380032804.3 | 申请日期 | 2013.06.12 |
| 申请人 | 罗伯特·博世有限公司 | 发明人 | B·格特纳;M·克伦克;K·赫韦格;M·贝森 |
| 分类号 | G01N15/06(2006.01)I;F01N11/00(2006.01)I;F02D41/00(2006.01)I | 主分类号 | G01N15/06(2006.01)I |
| 代理机构 | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人 | 郭毅 |
| 主权项 | 一种用于探测微粒、尤其烟灰的传感器(10)的功能检验的方法，其中，所述传感器(10)包括至少两个测量电极(20)和一个加热元件(14)，所述至少两个测量电极设置在由电绝缘材料构成的衬底(18)上，其中，所述方法包括以下步骤：在第一温度(42)时实施第一电流电压测量以求取第一测量参量；在第二温度(60)时实施第二电流电压测量以求取第二测量参量；形成所述第一测量参量和所述第二测量参量的差。 | ||
| 地址 | 德国斯图加特 | ||