发明名称 DEVICE FOR CALCULATING ROUND TRIP TIME OF MEMORY TEST USING PROGRAMMABLE LOGIC
摘要 <p>본 발명은 프로그래머블 로직을 이용한 메모리 테스트 왕복 시간 계산 장치에 관한 것으로서, 피시험장치(Device Under Test: DUT)인 메모리 장치가 없는 상태에서도, 그리고 물리적 버스 라인을 별도로 추가하지 않고도 패턴 발생기에서 메모리 장치(DUT)까지의 테스트 신호 왕복 시간을 계산할 수 있는 장치를 제공함에 그 목적이 있다. 이러한 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 두 쌍의 입출력핀을 포함하여, 테스트를 위한 패턴 신호를 발생시키며, 양방향 버스를 통해 입출력 라인(IO0, IO1)으로부터 궤환된 신호를 입력받는 패턴 발생부; 두 쌍으로 형성되어, 상기 패턴 발생부와 프로그래머블 로직부에서 전달되는 신호를 중계하는 양방향 버스; 및 상기 양방향 버스를 통해 전달된 패턴 신호를 입출력 라인(IO0, IO1)으로 전달하고, 입출력 라인(IO0, IO1)으로부터 궤환된 신호를 양방향 버스로 전달하되, 궤환 신호 계산 시, 다중화기를 통해 신호 연결 방향을 교차시키는 프로그래머블 로직부; 를 포함하되, 상기 패턴 발생부는, 패턴 신호를 보낸 시간을 기준으로 궤환된 신호가 전달된 시간을 측정하여 신호 왕복 시간을 계산하는 것을 특징으로 한다.</p>
申请公布号 KR101520055(B1) 申请公布日期 2015.05.19
申请号 KR20130090907 申请日期 2013.07.31
申请人 发明人
分类号 G05B19/05;G11C29/00 主分类号 G05B19/05
代理机构 代理人
主权项
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