发明名称 QUANTITATIVE RETICLE DISTORTION MEASUREMENT SYSTEM
摘要 리소그래피 장치는 방사선 빔을 컨디셔닝하도록 구성되는 조명 시스템, 패터닝 디바이스를 홀딩하도록 구성되는 서포트로서, 상기 패터닝 디바이스는 자신의 단면에 패턴이 있는 방사선 빔을 전달하여 패터닝된 방사선 빔을 형성할 수 있는, 서포트, 기판을 홀딩하도록 구성되는 기판 테이블, 및 패터닝된 방사선 빔을 기판의 타겟부 상에 투영하도록 구성되는 투영 시스템을 포함한다. 리소그래피 장치는 패터닝 디바이스의 표면 상에서 스캔하여 패터닝 디바이스의 길이와 나란한 제 1 방향에서의 왜곡 및 패터닝 디바이스의 표면에 실질적으로 수직인 제 2 방향에서의 왜곡을 결정하도록 설계되는 인코더를 더 포함한다.
申请公布号 KR20150053998(A) 申请公布日期 2015.05.19
申请号 KR20157009472 申请日期 2013.08.27
申请人 ASML HOLDING N.V.;ASML NETHERLANDS B.V. 发明人 CHIEDA MICHAEL;ROUX STEPHEN;DE WILT TEUN;AARTS IGOR
分类号 G03F7/20;H01L21/027;H01L21/033 主分类号 G03F7/20
代理机构 代理人
主权项
地址