发明名称 SiC被膜形成C/C合成物之使用方法
摘要 本发明之主要目的在提供可抑制使用SiC被膜形成C/C合成物时的劣化的SiC被膜形成C/C合成物之使用方法。;本发明之SiC被膜形成C/C合成物之使用方法系藉由在C/C合成物基材的表面,在加热下直接形成SiC被膜予以制作,且暂时被冷却至室温的SiC被膜形成C/C合成物之使用方法,其特征为:以与形成上述SiC被膜时的加热温度为同等或其以上的温度,使前述冷却时所产生的SiC被膜的裂痕状间隙消失,或使该间隙的宽幅比被冷却至上述室温时更为缩小来使用。
申请公布号 TW201518251 申请公布日期 2015.05.16
申请号 TW103121709 申请日期 2014.06.24
申请人 东洋炭素股份有限公司 TOYO TANSO CO., LTD. 发明人 中岛佑治 NAKASHIMA, YUJI;尾藤信吾 BITO, SHINGO
分类号 C04B41/00(2006.01);C04B41/87(2006.01);C04B35/52(2006.01) 主分类号 C04B41/00(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本 JP