发明名称 用于检测位移计之治具
摘要   一种用于检测位移计之治具具有一底座,底座上定义有一纵向的位移轴线;此位移轴线之一端固设有一位移计,而另一端设有一位移调整装置,此位移调整装置上固设有一与位移计相对之被测物,位移调整装置可产生沿位移轴线之位移而改变被测物之位置,藉以调整被测物与位移计之间的距离,用以校正位移计。
申请公布号 TW201518683 申请公布日期 2015.05.16
申请号 TW102140054 申请日期 2013.11.05
申请人 国立勤益科技大学 发明人 陈绍贤;詹巨鹏
分类号 G01B3/32(2006.01);G01B11/02(2006.01) 主分类号 G01B3/32(2006.01)
代理机构 代理人 田国健
主权项
地址 台中市太平区中山路2段57号 TW