发明名称 晶片堆叠结构之洗净方法及洗净设备;CLEANING METHOD OF CHIP STACKED STRUCTURE AND CLEANING APPARATUS
摘要 本发明揭示一种晶片堆叠结构之洗净方法,其特征在于,先提供一晶片堆叠结构,该晶片堆叠结构具有至少一位于晶片与基板之间的微小间隙,该微小间隙约为20~50μm,尚具有可让液体流通的空间,之后提供一化学清洗液,并使该化学清洗液以毛细现象进入该微小间隙,再进一步以特定模式自该微小间隙排出。采用本发明的方法,可有效去除三维、垂直互连之晶片堆叠结构中之微小间隙内的助焊剂或其他杂质。
申请公布号 TW201519307 申请公布日期 2015.05.16
申请号 TW102141252 申请日期 2013.11.13
申请人 弘塑科技股份有限公司 GRAND PLASTIC TECHNOLOGY CORPORATION 发明人 黄富源 HUANG, FU YUAN;张修凯 CHANG, HSIU KAI;王玺钧 WANG, HSI CHUN;王志成 WANG, CHIH CHENG
分类号 H01L21/306(2006.01) 主分类号 H01L21/306(2006.01)
代理机构 代理人 庄志强
主权项
地址 新竹市香山区中华路6段89号 TW