发明名称 电路测试系统;CIRCUIT TESTING SYSTEM
摘要 一种电路测试系统,包括测试设备、微控制器及开关组合,所述开关组合包括连接所述测试设备之第一开关、第二开关,所述第一开关与所述第二开关均连接所述微控制器,所述第一开关用于连接测试电路,所述第二开关用于连接另一测试电路,所述微控制器用于在接收到一触发信号后开启所述第一开关从而使来自所述测试电路之测试信号传送给所述测试设备,并于一设定时间后断开所述第一开关而开启所述第二开关以使来自所述另一测试电路之测试信号传送给所述测试设备。所述电路测试系统用于方便测试。
申请公布号 TW201518747 申请公布日期 2015.05.16
申请号 TW102131025 申请日期 2013.08.29
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD. 发明人 曹伟华 CAO, WEI-HUA;郭雯 GUO, WEN
分类号 G01R31/28(2006.01) 主分类号 G01R31/28(2006.01)
代理机构 代理人
主权项
地址 新北市土城区自由街2号 TW