介电材料的厚度或深度的非破坏性绝对测定;NONDESTRUCTIVE, ABSOLUTE DETERMINATION OF THICKNESS OF OR DEPTH IN DIELECTRIC MATERIALS

摘要

揭示的是整块介电材料厚度的增进测量。微波辐射在介电常数有所改变的介面(譬如部件的后壁)被部分反射。反射的微波在至少二个分开的侦测器之每一者结合了部分的出发束。造成一对正弦或近似正弦波。厚度或深度测量的增进是利用了在分享共同微波来源之侦测器的多个正弦或近似正弦驻波之间的相位和振幅关系。这些关系则用于测定讯号和厚度或深度之间的明白关系。