发明名称 一种二硫化钼/缓冲层/硅n-i-p太阳能电池器件及其制备方法
摘要 本发明公开了一种二硫化钼/缓冲层/硅n-i-p太阳能电池器件,其为层状结构,由上至下依次包括Pd金属前电极、MoS<sub>2</sub>薄膜层、缓冲层、p型单晶Si基片和金属In背电极,其中,缓冲层为具有宽禁带的介质材料,禁带宽度Eg&gt;3.0eV,作用主要包括两方面:一是,能够提高异质结界面内建电场;二是,阻挡载流子的界面复合特征。本发明通过界面缓冲层的引入,显著提高了器件的光伏性能,对比测试结果表明:开路电压、短路电流密度和光转换效率分别提高了69%以上、47%以上和85%以上。本发明具有器件结构简单,工艺简单、成品率高、制造成本低、生产过程无污染等特点,适于规模化工业生产。
申请公布号 CN104617165A 申请公布日期 2015.05.13
申请号 CN201510034090.0 申请日期 2015.01.23
申请人 中国石油大学(华东) 发明人 郝兰众;刘云杰;高伟;韩治德;薛庆忠
分类号 H01L31/0264(2006.01)I;H01L31/0248(2006.01)I;H01L31/18(2006.01)I 主分类号 H01L31/0264(2006.01)I
代理机构 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人 毛胜昔
主权项 一种二硫化钼/缓冲层/硅n‑i‑p太阳能电池器件,其特征在于,为层状结构,由上至下依次包括Pd金属前电极、MoS<sub>2</sub>薄膜层、缓冲层、p型单晶Si基片和金属In背电极;所述缓冲层通过直流磁控溅射沉积于所述p型单晶Si基片的上表面上,其厚度为1‑3nm,材质为具有宽禁带的介质材料,所述介质材料的禁带宽度Eg&gt;3.0eV;所述MoS<sub>2</sub>薄膜层通过直流磁控溅射沉积于所述缓冲层的表面上,所述MoS<sub>2</sub>薄膜层具有n型半导体特征,其厚度为70‑80nm;所述Pd金属前电极通过直流磁控溅射沉积于所述MoS<sub>2</sub>薄膜的表面上,其厚度为30‑40nm;所述金属In背电极通过锡焊焊接在所述Si基片的下表面上,其厚度为0.2mm。
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