发明名称 晶圆级封装的制造方法
摘要 本发明涉及一种晶圆级封装的制造方法,在第一芯片上形成第一光刻胶,在第一光刻胶上形成多个第一开口部,露出第一芯片的功能面;在从多个第一开口部露出的功能面上形成凸点下金属层,然后去除第一光刻胶;将第二芯片的功能凸点与凸点下金属层连接;在第一芯片和第二芯片之间形成填充层;在第一芯片上形成连接层,连接层的顶面高于第二芯片顶面;在连接层顶面植焊球。将第一芯片和第二芯片面对面设置,再在第一芯片上形成连接层,由此组成的封装结构在后续倒装工艺中,利用了第一芯片上的连接层与第二芯片形成的高度差,就可以将封装结构倒装,而不破坏封装结构,即倒装时不会损坏第二芯片,降低了加工过程中的风险。
申请公布号 CN104616998A 申请公布日期 2015.05.13
申请号 CN201410839944.8 申请日期 2014.12.30
申请人 南通富士通微电子股份有限公司 发明人 丁万春
分类号 H01L21/56(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I 主分类号 H01L21/56(2006.01)I
代理机构 北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435 代理人 孟阿妮;郭栋梁
主权项 一种晶圆级封装的制造方法,其特征在于,在第一芯片上形成第一光刻胶,在所述第一光刻胶上形成多个第一开口部,露出所述第一芯片的功能面;在从所述多个第一开口部露出的功能面上形成凸点下金属层,然后去除所述第一光刻胶;将所述第二芯片的功能凸点与所述凸点下金属层连接;在所述第一芯片和所述第二芯片之间形成填充层;在所述第一芯片上形成连接层,所述连接层为层状结构;在所述连接层顶面植焊球,所述焊球的顶面高于所述第二芯片的顶面。
地址 226006 江苏省南通市崇川区崇川路288号