发明名称 一种测试方法及测试系统
摘要 本发明提供一种测试方法及测试系统,所述测试方法包括步骤:由外部设备向被测设备发送测试命令;被测设备根据测试命令控制电光信号转换接口的低速信号变化;一连接在电光信号转换接口上的微处理器检测到电光信号转换接口的低速信号变化后,根据电光信号转换接口的低速信号变化,向外部设备发送反馈信息;外部设备接收反馈信息并将其与预设信息进行比对,当反馈信息与预设信息相同时,判断电光信号转换接口处于正常工作状态,当反馈信息与预设信息不相同时,判断电光信号转换接口处于非正常工作状态。本发明在测试过程中不需要借助示波器或万用表等测试仪器即可完成电光信号转换接口的验证工作。提高了测试工作的效率,测试过程简便、准确。
申请公布号 CN104614607A 申请公布日期 2015.05.13
申请号 CN201510036365.4 申请日期 2015.01.23
申请人 加弘科技咨询(上海)有限公司 发明人 杜威;崔鹏;苏涛凤
分类号 G01R31/00(2006.01)I 主分类号 G01R31/00(2006.01)I
代理机构 上海光华专利事务所 31219 代理人 余明伟
主权项 一种测试方法,其特征在于,藉由外部设备对至少一个被测设备的电光信号转换接口进行测试,包括如下步骤:所述外部设备向所述被测设备发送测试命令;所述被测设备根据所述测试命令控制所述电光信号转换接口的低速信号变化;一连接在所述电光信号转换接口上的微处理器检测到所述电光信号转换接口的低速信号变化后,根据所述电光信号转换接口的低速信号变化,向所述外部设备发送反馈信息;所述外部设备接收所述反馈信息并将其与预设信息进行比对,当所述反馈信息与所述预设信息相同时,判断所述电光信号转换接口处于正常工作状态,当所述反馈信息与所述预设信息不相同时,判断所述电光信号转换接口处于非正常工作状态。
地址 201203 上海市浦东新区张江高科技园区龙东大道3000号1幢A楼701、801室