一种结合温度、电压变量的内存rank margin测试方法

摘要

本发明特别涉及一种结合温度、电压变量的内存rank margin测试方法。该结合温度、电压变量的内存rank margin测试方法，将rank margin测试和温度、Vdd的四角测试结合在一起，在拉偏温度和Vdd电压的情况下进行rank margin test的测试。经过对比验证，该结合温度、电压变量的内存rank margin测试方法，通过增加温度和Vdd拉偏四角测试的rank margin测试可以多覆盖掉70%的漏出问题；该方法不仅能模拟实际应用中，环境温度和电压的恶劣的情况下，rank margin方面是否存在问题，还能更大量的发现在内存支持方面power、SI、layout等的问题。

主权项

一种结合温度、电压变量的内存rank margin测试方法，其特征在于：将rank margin测试和温度、Vdd的四角测试结合在一起，在拉偏温度和Vdd电压的情况下进行rank margin test的测试。