发明名称 一种高功率微波测试平台
摘要 本发明公开了一种高功率微波测试平台,本测试平台包括一管状外导体(2),位于该外导体(2)内的管状内导体(1),该外导体(2)上端口与一上端盖(3)密封连接;该内导体(1)的上端口与一平板(5)密封连接,该内导体(1)的下端口和外导体(2)的下端口与一下端盖(4)密封连接;其中,所述内导体(1)、外导体(2)、上端盖(3)和下端盖(4)形成同轴线谐振腔,所述平板(5)与所述上端盖(3)之间构成一个平行板电容;该上端盖(3)上设有两个待测器件连接端口。通过调整平台参数可实现对于低频、中频、高频器件的测试,该测试平台具有体积小、工作频带宽且易调节的优点。
申请公布号 CN103390787B 申请公布日期 2015.05.13
申请号 CN201310295720.0 申请日期 2013.07.15
申请人 中国科学院高能物理研究所 发明人 黄彤明;马强;潘卫民;孟繁博;陈旭;林海英;赵光远
分类号 H01P7/04(2006.01)I;G01R31/00(2006.01)I 主分类号 H01P7/04(2006.01)I
代理机构 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 代理人 余长江
主权项 一种高功率微波测试平台,其特征在于包括一管状外导体(2),位于该外导体(2)内的管状内导体(1),该外导体(2)上端口与一上端盖(3)密封连接;该内导体(1)的上端口与一平板(5)密封连接,该内导体(1)的下端口和外导体(2)的下端口与一下端盖(4)密封连接;其中,所述内导体(1)、外导体(2)、上端盖(3)和下端盖(4)形成同轴线谐振腔,所述平板(5)与所述上端盖(3)之间构成一个平行板电容;该上端盖(3)上设有两个待测器件连接端口;其中,所述平板(5)的中轴线与外导体(2)的轴线重合,所述平板(5)为圆形平板且其直径小于所述外导体(2)的内直径;所述待测器件连接端口包括一第一直管(6)和位于该第一直管(6)内的第二直管(7),第二直管(7)的下端口与所述圆形平板(5)连接;第一直管(6)的下端口与上端盖(3)连接。
地址 100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙)