高产率半导体器件测试

摘要

本发明提供了一种测试系统，所述测试系统提供用于分析的输出信号，而不需要所述测试硬件在稳定间隔期间闲置。所述测试系统包括预处理器，所述预处理器识别所述输出信号中出现的近直流漂移，然后调整所述输出信号以消除所述近直流漂移。可以计算用于分析的代表信号采集期间的多个时间中的每一个处的所述近直流漂移的值集，并可通过对所述值集拟合曲线将它们用于建立所述信号的稳定分布的模型。然后，可以从代表所述输出信号的样本减去所述稳定分布的模型，从而提供用于进一步分析的调整信号。

主权项

一种通过电子器件处理信号输出的方法，所述方法包括：接收代表所述电子器件的输出的多个周期信号样本；通过所述多个样本的至少一部分计算所述周期信号的第一稳定分布；从所述多个样本减去所述第一稳定分布，从而获得第一多个调整样本；以及对所述第一多个调整样本执行分析功能。