发明名称 用于调整校准元件的方法及对应的装置
摘要 一种用于调整校准元件(30)的电气行为或特征的方法,包括通过在前述校准元件(30)中产生一个或更多个切口或切割部(32)来调整前述校准元件(30)的电气行为或特征。具体而言,校准元件(30)包括多个孔口(340),并且该方法包括在其边缘与前述孔口(340)中的至少一个之间产生校准元件(30)中的切口或切割部,以及/或者在前述孔口(340)中的至少两个之间产生校准元件(30)中的切口或切割部。
申请公布号 CN104620089A 申请公布日期 2015.05.13
申请号 CN201380029201.8 申请日期 2013.03.29
申请人 微型金属薄膜电阻器有限公司 发明人 M.克罗西
分类号 G01L9/00(2006.01)I;G01L9/06(2006.01)I;G01L9/12(2006.01)I;G01L9/04(2006.01)I;G01L9/10(2006.01)I;H01C17/23(2006.01)I;H01C17/242(2006.01)I 主分类号 G01L9/00(2006.01)I
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人 严志军;傅永霄
主权项  一种用于调整校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)的电气行为或特征的方法,包括通过在所述校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中产生一个或更多个切口或切割部(32)来调整所述校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)的电气行为或特征,所述方法的特征在于,所述校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)包括多个孔口(34),并且所述方法包括以下操作中的至少一个:在其边缘与所述孔口(34)中的至少一个之间产生所述校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中的切口或切割部;以及在所述孔口(34)中的至少两个之间产生所述校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中的切口或切割部。
地址 瑞士门德里西奥