发明名称 | 用于调整校准元件的方法及对应的装置 | ||
摘要 | 一种用于调整校准元件(30)的电气行为或特征的方法,包括通过在前述校准元件(30)中产生一个或更多个切口或切割部(32)来调整前述校准元件(30)的电气行为或特征。具体而言,校准元件(30)包括多个孔口(340),并且该方法包括在其边缘与前述孔口(340)中的至少一个之间产生校准元件(30)中的切口或切割部,以及/或者在前述孔口(340)中的至少两个之间产生校准元件(30)中的切口或切割部。 | ||
申请公布号 | CN104620089A | 申请公布日期 | 2015.05.13 |
申请号 | CN201380029201.8 | 申请日期 | 2013.03.29 |
申请人 | 微型金属薄膜电阻器有限公司 | 发明人 | M.克罗西 |
分类号 | G01L9/00(2006.01)I;G01L9/06(2006.01)I;G01L9/12(2006.01)I;G01L9/04(2006.01)I;G01L9/10(2006.01)I;H01C17/23(2006.01)I;H01C17/242(2006.01)I | 主分类号 | G01L9/00(2006.01)I |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 严志军;傅永霄 |
主权项 | 一种用于调整校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)的电气行为或特征的方法,包括通过在所述校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中产生一个或更多个切口或切割部(32)来调整所述校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)的电气行为或特征,所述方法的特征在于,所述校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)包括多个孔口(34),并且所述方法包括以下操作中的至少一个:在其边缘与所述孔口(34)中的至少一个之间产生所述校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中的切口或切割部;以及在所述孔口(34)中的至少两个之间产生所述校准元件(30; RC; RPl , RP2; 40)中的切口或切割部。 | ||
地址 | 瑞士门德里西奥 |